SMART сообщает о плохом секторе, который больше, чем количество секторов

Я пытаюсь создать удаленный сервер резервного копирования, поэтому я установил smartmontools для мониторинга внешнего диска Samsung M3 External (USB3) объемом 1 ТБ.

Я запустил самотестирование, и оно вернуло ошибку чтения:

 5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 252 252 010 Pre-fail Always - 0 ... 197 Current_Pending_Sector 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 1 198 Offline_Uncorrectable 0x0030 252 252 000 Old_age Offline - 0  SMART Extended Self-test Log Version: 1 (2 sectors) Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error # 1 Extended offline Completed: read failure 10% 956 1953524376 

После этого я попытался следовать инструкции HOWTO по блоку Bad для smartmontools .

Я попытался определить, в каком разделе произошла ошибка, когда заметил, что fdisk -lу меня нет сектора 19535 2 4376, только 19535 0 4688 секторов.

Disk /dev/sda: 931.5 GiB, 1000194400256 bytes, 1953504688 sectors Units: sectors of 1 * 512 = 512 bytes Sector size (logical/physical): 512 bytes / 512 bytes I/O size (minimum/optimal): 512 bytes / 512 bytes Disklabel type: gpt Disk identifier: 13771C11-8744-B04F-AF61-FA42552D12A6  Device Start End Sectors Size Type /dev/sda1 2048 1953486847 1953484800 931.5G Solaris /usr & Apple ZFS /dev/sda9 1953486848 1953503231 16384 8M Solaris reserved 1 

Это также было подтверждено, ddкогда я попытался перезаписать сектор:

dd if=/dev/sda bs=512 count=1 skip=1953524376 dd: /dev/sda: cannot skip: Invalid argument 0+0 records in 0+0 records out 0 bytes copied, 0.000439632 s, 0.0 kB/s 

Может кто-нибудь объяснить мне, как я могу заставить переселение для этого сектора? Я думал о перезаписи всего диска нулями dd, но я не вижу никакой причины, если он не может записать в плохой сектор.

Во время написания этой статьи я также заметил, что она smartctlплохо сообщает о моей модели диска, устройстве и серийном номере. По наклейке у меня есть

Samsung M3 Portable 1TB Model: HX-M101TCB/G Serial: E2FWJJHDA226A9 

Может ли это быть причиной того, что тест обнаружил нечто «невозможное»?

Вот мой полный smartctl -aвывод:

smartctl 6.5 2016-05-07 r4318 [armv7l-linux-4.9.28-2-ARCH] (local build) Copyright (C) 2002-16, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org  === START OF INFORMATION SECTION === Model Family: Seagate Samsung SpinPoint M8U (USB) Device Model: ST1000LM025 HN-M101ABB Serial Number: E1653G14AB6A7P LU WWN Device Id: 0 000000 000000000 Firmware Version: 2AR10001 User Capacity: 1,000,204,886,016 bytes [1.00 TB] Sector Sizes: 512 bytes logical, 4096 bytes physical Rotation Rate: 5400 rpm Form Factor: 2.5 inches Device is: In smartctl database [for details use: -P show] ATA Version is: ATA8-ACS T13/1699-D revision 6 SATA Version is: SATA 3.0, 3.0 Gb/s (current: 3.0 Gb/s) Local Time is: Tue May 30 00:55:00 2017 CEST SMART support is: Available - device has SMART capability. SMART support is: Enabled  === START OF READ SMART DATA SECTION === SMART Status not supported: Incomplete response, ATA output registers missing SMART overall-health self-assessment test result: PASSED Warning: This result is based on an Attribute check.  General SMART Values: Offline data collection status: (0x83) Offline data collection activity is in a Reserved state. Auto Offline Data Collection: Enabled. Self-test execution status: ( 113) The previous self-test completed having the read element of the test failed. Total time to complete Offline data collection: (13140) seconds. Offline data collection capabilities: (0x5b) SMART execute Offline immediate. Auto Offline data collection on/off support. Suspend Offline collection upon new command. Offline surface scan supported. Self-test supported. No Conveyance Self-test supported. Selective Self-test supported. SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering power-saving mode. Supports SMART auto save timer. Error logging capability: (0x01) Error logging supported. General Purpose Logging supported. Short self-test routine recommended polling time: ( 2) minutes. Extended self-test routine recommended polling time: ( 219) minutes. SCT capabilities: (0x003f) SCT Status supported. SCT Error Recovery Control supported. SCT Feature Control supported. SCT Data Table supported.  SMART Attributes Data Structure revision number: 16 Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds: ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE 1 Raw_Read_Error_Rate 0x002f 100 100 051 Pre-fail Always - 3 2 Throughput_Performance 0x0026 252 252 000 Old_age Always - 0 3 Spin_Up_Time 0x0023 086 086 025 Pre-fail Always - 4467 4 Start_Stop_Count 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 1898 5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 252 252 010 Pre-fail Always - 0 7 Seek_Error_Rate 0x002e 252 252 051 Old_age Always - 0 8 Seek_Time_Performance 0x0024 252 252 015 Old_age Offline - 0 9 Power_On_Hours 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 956 10 Spin_Retry_Count 0x0032 252 252 051 Old_age Always - 0 11 Calibration_Retry_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 4 12 Power_Cycle_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 952 191 G-Sense_Error_Rate 0x0022 100 100 000 Old_age Always - 9 192 Power-Off_Retract_Count 0x0022 252 252 000 Old_age Always - 0 194 Temperature_Celsius 0x0002 055 049 000 Old_age Always - 45 (Min/Max 27/52) 195 Hardware_ECC_Recovered 0x003a 100 100 000 Old_age Always - 0 196 Reallocated_Event_Count 0x0032 252 252 000 Old_age Always - 0 197 Current_Pending_Sector 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 1 198 Offline_Uncorrectable 0x0030 252 252 000 Old_age Offline - 0 199 UDMA_CRC_Error_Count 0x0036 200 200 000 Old_age Always - 0 200 Multi_Zone_Error_Rate 0x002a 100 100 000 Old_age Always - 545 223 Load_Retry_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 4 225 Load_Cycle_Count 0x0032 098 098 000 Old_age Always - 27934  SMART Error Log Version: 1 No Errors Logged  SMART Self-test log structure revision number 1 Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error # 1 Extended offline Completed: read failure 10% 956 1953524376 # 2 Short offline Completed: read failure 70% 952 1953524376  SMART Selective self-test log data structure revision number 0 Note: revision number not 1 implies that no selective self-test has ever been run SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS 1 0 0 Completed_read_failure [10% left] (0-65535) 2 0 0 Not_testing 3 0 0 Not_testing 4 0 0 Not_testing 5 0 0 Not_testing Selective self-test flags (0x0): After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk. If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay. 

Какую дальнейшую диагностику я должен сделать? Могу ли я надежно использовать этот накопитель? Если да, какие меры предосторожности я должен соблюдать и / или какие меры по исправлению положения я должен предпринять?